Przejdź do głównej treści

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Zespół Technologii Organicznej

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Pracownia Spektroskopii Fotoelektronów (XPS)

Zdjęcie spektrometru XPSZasadniczą częścią układu jest próżniowa komora analityczna wyposażona w precyzyjny manipulator pięcioosiowy (translacja w kierunkach X, Y, Z oraz obroty wokół osi Z i osi prostopadłej do powierzchni próbki) z możliwością chłodzenia i grzania próbek w zakresie od 90 do 1473 K, hemisferyczny analizator cząstek naładowanych XPS i AES (VG SCIENTA R3000), lampę rentgenowską dwu antykatodową Mg/Al (moc Mg/Al 400/600 W), monochromator promieniowania rentgenowskiego wraz ze źródłem promieniowania (pojedyncza antykatoda Al), układ pompowy i pomiarowy próżni (zapewniona próżnia bazowa < 1 10-8 po 48 h wygrzewania w 150 °C), działo neutralizujące ładunek na powierzchni próbek nieprzewodzących (zakres energii 0-500 eV, natężenie prądu elektronowego 1-500 μA), działo jonowe do wykonywania profili głębokościowych (IS 40E1) oraz działo elektronowe do spektroskopii Augera (ES 40C1). W zaprojektowanym systemie istnieje zatem możliwość zbierania widm XPS oraz AES. Szeroki wybór dostępnych nośników próbek zapewnia przygotowanie systemu do pomiarów zarówno dla preparatów w formie monokryształów, blaszek i granulek, jak i proszków. Przed właściwym pomiarem możliwa jest aktywacja termiczna preparatu w komorze preparacyjnej z manipulatorem czteroosiowym bądź chemiczna w wysokociśnieniowym reaktorze przepływowym (zestaw gwarantujący pracę z zastosowaniem do czterech różnych gazów reakcyjnych pod ciśnieniem do 1.6 MPa oraz do temperatury 920 K, z analizą gazowych produktów w kwadrupolowym spektrometrze masowym).
Zobacz galerię zdjęć